| Имитация
условий космического пространства
Стенд ОКВС-12 предназначен для тестирования термонапряженной,
в том числе глубокоохлаждаемой, оптики и оптико-электронных систем
ИК телескопов, а также исследований радиационного теплообмена и
физических свойств материалов в широком интервале температур и условиях
высокого вакуума и других физических исследований.
Основные технические характеристики:
- Температура тестируемых оптических систем и других объектов,
К - 10-350
- Температура тестирумых фотоприемных устройств,К - > 2
- Давление в камере, Па - 10-5-2*105
- Объем камеры, м3 - 12
- Габариты испытуемых изделий, мм
- диаметр - < 1200
- длина - < 4000
- Уровень теплового радиационного фона эквивалентен температуре
абсолютно черного тела при температуре, К >20
- Время непрерывной работы на температурном уровне:
- 10-80К, ч - 120
- 80-400К, суток - до 30
Основные особенности стенда:
•Стенд оборудован высокоточной интерферометрической системой для
измерения качества оптики, а также термодеформаций тел со среднеквадратичной
ошибкой по поверхности О.О2мкм;
•Интерферометрическая система не требует специальных виброзащитных
средств и может располагаться в неnосредственной близости от действующего
машинного оборудования;
•Контрольно-измерительная система стенда оборудована автоматизированной
системой сбора и обработки информации, работающей в режиме реального
времени;
•В криокамере стенда имеется возможность имитации различных условий
радиационного, кондуктивного и смешанного теплообмена, в том числе
тел с внутренними источниками тепловыделений;
•Стенд оборудован двухуровневой системой криогенного обеспечения:
азотный уровень – проточная, жидкостная
гелиевый уровень – замкнутая рефрижераторная и жидкостная.
•Вакуумная система стенда оборудована средствами безмасляной высоковакуумной
откачки.
Области nрименения:
•Разработка и создание низкофоновой ИК аппаратуры дпя астрофизических
исследований космического пространства;
•Разработка и создание широкого спектра оптических приборов, телескопов;
•Разработка и исследования новых технологий криогенного аппаратостроения;
•Получение новых данных о радиационных и термомеханических параметрах
материапов при криогенных температурах;
•Метрология спабых источников ИК излучения.
|
